跨限X射线吸收浓度分析仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要

一种跨限X射线吸收浓度分析仪,包括可提供两种以上单能X射线的放射源—动靶机构、样品容器、由闪烁晶体构成的探头、单道分析器和微机。该仪器结构简单、使用方便、造价低廉、维护量小,特别适用于多组分稀土元素体系的在线测量。这种浓度分析仪还具灵活性和多面性的特点,原则上对于中等原子序数以上的各种元素,单一体系或复杂体系都能适用,在稀贵金属和稀少金属的水法冶金中,在石油化工和其他化工生产中也有广泛的应用前景。

基本信息
专利标题 :
跨限X射线吸收浓度分析仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1040095A
申请号 :
CN88106307.X
公开(公告)日 :
1990-02-28
申请日 :
1988-09-01
授权号 :
CN1012844B
授权日 :
1991-06-12
发明人 :
曹洪章陶伦常陈年生潘允德李光英秦元德张玉成
申请人 :
核工业部第二研究设计院
申请人地址 :
北京市海淀区马神庙1号
代理机构 :
核工业专利法律事务所
代理人 :
张英光
优先权 :
CN88106307.X
主分类号 :
G01N23/083
IPC分类号 :
G01N23/083  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/05
利用中子
G01N23/083
辐射是X射线
法律状态
1995-10-25 :
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-01-22 :
授权
1991-06-12 :
审定
1990-02-28 :
公开
1989-01-25 :
实质审查请求
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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