单臂压制式导电体测试装置
授权
摘要
本实用新型提供一种单臂压制式导电体测试装置，包括一安装座、一测试座、一活动盖、一第一弹力组及一连动支臂组。其中该活动盖系通过该第一弹力组而间隔活动设置于该安装座一侧，且该连动支臂组活动连接于该安装座及该活动盖之间，该测试座夹设于该安装座及一测试电路板之间，通过该连动支臂组的一第一支臂的该压制盖特殊设计，其内部活动设有一压制块，以在进行压制时由该导电体顶面的中央部位自动调整角度并平均地下压，而避免电气连接时的信号传输错误以及其表面纹路有磨损。
基本信息
专利标题 ：
单臂压制式导电体测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121799052.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-08-03
授权号 ：
CN216209503U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
谢健堉郭士辅
申请人 ：
台湾中国探针股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新北市
代理机构 ：
北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
李林
优先权 ：
CN202121799052.1
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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