一种便于调节的集成电路生产检测用工作台
授权
摘要
本实用新型公开了一种便于调节的集成电路生产检测用工作台，包括支撑箱，所述支撑箱的底部固定连接有调整箱，所述调整箱的内腔固定连接有双轴电机，所述双轴电机的输出端固定连接有蜗杆，所述蜗杆的表面啮合有蜗轮，所述蜗轮的内腔固定连接有螺纹杆，所述螺纹杆的顶部贯穿至支撑箱的内腔并螺纹连接有螺纹套，所述螺纹套的表面固定连接有调整板，所述支撑箱内腔底部两侧的前侧与后侧均固定连接有斜板。本实用新型通过支撑箱、调整箱、双轴电机、蜗杆、蜗轮、螺纹杆、螺纹套、调整板、斜板、第一滑轮、调整块、第二滑轮、支撑柱、工作板、凹槽、滑杆、第一滑块与控制器的配合使用，能够根据使用者的身高调节工作板的高度。
基本信息
专利标题 ：
一种便于调节的集成电路生产检测用工作台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122034624.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-08-27
授权号 ：
CN216310193U
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
詹雨雷
申请人 ：
詹雨雷
申请人地址 ：
四川省成都市彭州市护贤南路139号华茂大厦7层727室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202122034624.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 G01R1/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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