本实用新型公开一种便于调节的集成电路测试用承载治具，其包括承载底座，所述承载底座上端面对称设有两根固定杆；固定件，所述固定件由移动滑块和可伸缩杆组成，所述移动滑块嵌入所述固定杆内，并通过螺栓固定，所述可伸缩杆设于所述移动滑块的上端且设于所述移动滑块的端头处，通过调节所述固定件以适用于承载不同尺寸的待测试集成电路。本实用新型的承载治具仅通过可伸缩杆和移动滑块的配合就可以与不同尺寸的待测试集成电路相匹配，其结构简单，易于调节，方便管理，不仅降低了测试成本，提高了测试效率，还具有便于调节以及调节精确度高的特点。