一种用于集成电路测试的承载治具
授权
摘要

本实用新型公开了一种用于集成电路测试的承载治具,涉及到集成电路测试领域,包括底座,所述底座的底部固定连接有橡胶垫,所述橡胶垫的表面固定连接有防滑纹,所述底座的顶端固定连接有固定块,所述固定块的顶端固定连接有固定柱,所述固定块的内部开设有通孔,所述通孔的内部通过轴承固定连接有螺纹杆,所述螺纹杆的一端固定连接有转盘,所述转盘的一侧固定连接有摇柄,所述固定块的一侧设有活动块。本实用新型通过在固定块和活动块的顶部设置有绝缘层,能够避免被电到,解决了产生漏电伤人的问题,通过活动柱、限位柱、活动槽和弹簧之间的配合设置,能够快速安装,解决了安装麻烦的问题,提高工作效率。

基本信息
专利标题 :
一种用于集成电路测试的承载治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921880109.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-04
授权号 :
CN211122953U
授权日 :
2020-07-28
发明人 :
方经军
申请人 :
苏州斯丹德电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中区木渎镇珠江南路211号1幢1226-1室
代理机构 :
苏州欣达共创专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
范玉敏
优先权 :
CN201921880109.3
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2020-07-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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