本实用新型提供一种可调节式集成电路测试治具，包括工作台和测试座，所述工作台的顶部开设有滑槽，所述工作台的外边侧与滑槽对应的位置处开设有通孔，调节螺杆的一端穿过通孔并通过转动轴与滑槽的内侧壁连接，所述工作台上处于滑槽两侧的位置处设置有刻度线，该可调节式集成电路测试治具设计合理，测试座能够按照固定的路线在工作台上移动，从而能够有效地方便集成电路测试的便捷性和效率，并且，各个测试座能够独立的根据需要进行调节，适应性广，方便快捷。