一种电子产品测试用按键寿命试验装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种电子产品测试用按键寿命试验装置，涉及按键寿命试验装置技术领域，该电子产品测试用按键寿命试验装置，包括底座，所述底座顶端焊接有顶架，所述顶架内部通过螺栓安装有电动伸缩架。本实用新型通过顶架内部通过螺栓安装的电动伸缩架，方便推动驱动盒下压，从而调节延伸杆位置，满足延伸杆按压电子产品按键进行测试的高度需求，同时也满足了按键寿命试验装置的按压深度调节需求，同时通过机盒内部通过螺栓安装的电动伸缩器，方便电动延伸杆进行伸缩运动，从而对电子产品进行按键寿命试验，通过驱动盒底端开设有滑槽，方便根据需求，滑动限位滑块，调节机盒位置，满足不同电子产品按键测试的位置调节需求。
基本信息
专利标题 ：
一种电子产品测试用按键寿命试验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122091657.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-01
授权号 ：
CN216160140U
授权日 ：
2022-04-01
发明人 ：
王强
申请人 ：
深圳市柯比迪科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区粤兴三道6号南大产学研大厦6B
代理机构 ：
北京盛凡佳华专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
孙瑞峰
优先权 ：
CN202122091657.1
主分类号 ：
G01M13/00
IPC分类号 ：
G01M13/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M13/00
机械部件的测试
法律状态
2022-04-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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