一种出光均匀的蓝光模组装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种出光均匀的蓝光模组装置，包括：下承载基板、支撑圆柱、上承载基板、电风扇、圆形凹槽、金属圆筒、蓝光灯珠、出光结构，出光结构还包括：上金属弹簧卡壳、橡胶垫圈、上强化玻璃、扩散板、下强化玻璃、下金属弹簧卡壳；所述下承载基板通过支撑圆柱与上承载基板连接，所述电风扇安装在下承载基板上，所述电风扇安装在圆形凹槽正下方，所述圆形凹槽设置在上承载基板上，所述金属圆筒安装在圆形凹槽上，所述蓝光灯珠安装在金属圆筒内部中心位置，所述出光结构安装在金属圆筒上方。本实用新型设置电风扇、密封胶、橡胶垫圈、上强化玻璃和下强化玻璃，提高了蓝光光源工作的稳定性；设置扩散板，提高蓝光光源出光的均匀性。
基本信息
专利标题 ：
一种出光均匀的蓝光模组装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122295898.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-23
授权号 ：
CN216411426U
授权日 ：
2022-04-29
发明人 ：
张爱迪
申请人 ：
南京贝迪新材料科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市江宁区乾德路5号
代理机构 ：
南京禾祁专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
孟捷
优先权 ：
CN202122295898.8
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/02 F21V31/00 F21V5/00 F21V29/67 F21V29/70 F21V25/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-04-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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