尺寸检测机构及全自动打标机
授权
摘要
本实用新型公开一种尺寸检测机构及全自动打标机，其中，所述尺寸检测机构包括支架、水平位移机构及CCD检测模组；所述水平位移机构安装于所述支架上，所述水平位移机构包括横向位移机构和纵向位移机构，所述纵向位移机构安装于所述横向位移机构上，所述横向位移机构可沿横向移动，所述纵向位移机构可沿纵向移动；所述CCD检测模组与所述纵向位移机构连接，所述CCD检测模组用以检测产品的尺寸。本实用新型的尺寸检测机构，能够解决检测产品的外形尺寸时效率较低的问题。
基本信息
专利标题 ：
尺寸检测机构及全自动打标机
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122339907.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-26
授权号 ：
CN216206027U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
申昌辉李建平杨建林徐兆华叶凯云颜广文杨勇盛辉周学慧张凯
申请人 ：
深圳泰德激光技术股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区粤海街道麻岭社区科研路9号比克科技大厦401M-2
代理机构 ：
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司
代理人 ：
苗广冬
优先权 ：
CN202122339907.9
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00 B41J3/407 B41J3/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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