适用于2D/2.5D/3D的DR/CT检测系统
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摘要

本实用新型涉及一种适用于2D/2.5D/3D的DR/CT检测系统,包括铅房,铅房设有推拉门和推拉窗,铅房中设有底座、射线装置、成像装置和第一工件台,射线装置包括安装在底座上的第一龙门架,第一龙门架上通过第一滑轨组件安装有第一射线模块,成像装置包括安装在底座上的第二龙门架,第二龙门架上通过第二滑轨组件安装有转接支架,转接支架通过第三滑轨组件安装有成像板,第一龙门架和第二龙门架与底座之间设有横移机构,第一工件台包括基板,基板上通过纵移机构安装有第一升降台,第一升降台上安装有第一旋转台,第一旋转台上通过第一滑轨模组安装有圆形工件夹持组件,铅房的外侧安装有操控台。其具有控制灵活、功能性强、检测精度高、安全可靠的优点。

基本信息
专利标题 :
适用于2D/2.5D/3D的DR/CT检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122405717.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-09-30
授权号 :
CN216285000U
授权日 :
2022-04-12
发明人 :
邹昆
申请人 :
北京申士丰禾检测技术有限公司
申请人地址 :
北京市顺义区民泰路13号院9号楼402B(科技创新功能区)
代理机构 :
北京天方智力知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张廷利
优先权 :
CN202122405717.2
主分类号 :
G01N23/046
IPC分类号 :
G01N23/046  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术,如计算机X光断层技术
法律状态
2022-04-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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