激光与射线组合测量设备
授权
摘要
本申请提供多种激光与射线组合测量设备，包括激光测量模块、射线测量模块及底座，激光测量模块包括相对设置的第一激光测距装置和第二激光测距装置用于测量物料的厚度，射线测量模块包括射线发射装置及射线接收装置以测量物料的面密度，其中激光测量模块、射线测量模块整体能够相对底座平移运动，或者第一激光测距装置、第二激光测距装置、射线发射装置及射线接收装置能够分别相对底座平移运动，使得射线测量模块及激光测量模块能够分别针对物料的不同位置进行检测，进而实现了提升检测结果准确性的目的。
基本信息
专利标题 ：
激光与射线组合测量设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122444012.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-11
授权号 ：
CN216208355U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
张孝平丁德甲尚允坤王佳利孙树
申请人 ：
深圳市大成精密设备股份有限公司;常州市大成真空技术有限公司;东莞市大成智能装备有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道蚝业社区海滨新村14栋28、29
代理机构 ：
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司
代理人 ：
袁建设
优先权 ：
CN202122444012.1
主分类号 ：
G01N9/24
IPC分类号 ：
G01N9/24 G01N9/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N9/00
测试材料的密度或比重；通过测定密度或比重以分析材料
G01N9/24
通过观察穿过材料的波的传播或粒子辐射
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
