测量装置及探测系统
授权
摘要
本申请涉及成像技术领域，特别是涉及一种测量装置及探测系统，该测量装置包括基板，基板上开设有多个容置腔；多个待测模体，每个待测模体的材料不同，待测模体对应地安装容置腔内；驱动组件，驱动组件与基板连接；驱动组件带动基板运动，以切换不同的待测模体移动至位于检测区域。该测量装置用以提供多种不同材料的待测模体，可以满足多种临床和临床前探测器的性能测试，应用范围广范；在测试时驱动组件能够根据测试进程自动切换待测模体，提高测试效率，且可用于多次的重复测试，稳定度高；通过该测量装置对探测器进行测试，获得该探测器对多种不同材料K‑edge的鉴别能力，有利于提高K‑edge成像等能谱应用时能阈选择的准确性以及测试的工作效率和准确度。
基本信息
专利标题 ：
测量装置及探测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122489624.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-15
授权号 ：
CN216285749U
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
潘晓明邢峣
申请人 ：
武汉联影生命科学仪器有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号武汉新能源研究院大楼G2-103室(自贸区武汉片区)
代理机构 ：
杭州华进联浙知识产权代理有限公司
代理人 ：
雷志刚
优先权 ：
CN202122489624.2
主分类号 ：
G01T7/00
IPC分类号 ：
G01T7/00 G01N23/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T7/00
辐射计量仪器的附件
法律状态
2022-04-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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