一种射线发射率测量用探测装置及探测系统
实质审查的生效
摘要
本申请实施例公开了一种射线发射率测量用探测装置及探测系统,涉及射线探测技术领域,解决了相关技术中探测装置效率不可变的问题。该射线发射率测量用探测装置,包括真空容器、探测器组件、射线源组件和多个支撑部,探测器组件固定于真空容器内部的一端;射线源组件位于真空容器内,且射线源组件和探测器组件在真空容器的延伸方向上相对设置;多个支撑部沿真空容器延伸方向依次设置,且支撑部固定于真空容器的内壁,射线源组件与多个支撑部中的一个连接。本申请的射线发射率测量用探测装置用于对α、β射线的发射率进行测量。
基本信息
专利标题 :
一种射线发射率测量用探测装置及探测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114488254A
申请号 :
CN202210027318.3
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李立华李玮夏莉刘蕴韬
申请人 :
中国原子能科学研究院
申请人地址 :
北京市房山区新镇三强路1号院
代理机构 :
北京派特恩知识产权代理有限公司
代理人 :
刘欣
优先权 :
CN202210027318.3
主分类号 :
G01T1/167
IPC分类号 :
G01T1/167 G01T7/00 G01T7/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/167
测量物体放射性含量,例如,污染的测量
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 1/167
申请日 : 20220111
申请日 : 20220111
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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