一种同轴检测光源
授权
摘要
本实用新型公开了一种同轴检测光源,包括光源外壳,所述光源外壳的底部设有出光口,所述光源外壳的顶部设有拍摄窗口,所述拍摄窗口对准于所述出光口设置;所述光源外壳的侧面设有灯板,沿所述灯板的出光路径设有分光镜,所述分光镜倾斜于所述出光路径设置,使所述灯板的出射光线经所述分光镜反射,形成射入所述出光口的第一反射光线;所述同轴检测光源还包括:第一消光面,所述灯板的出射光线经所述分光镜折射,形成射入所述第一消光面的折射光线。本实用新型通过在同轴光源中设置第一消光面,使得经过分光镜折射后的光线得以消除,避免形成干扰光线,有利于确保照射至被测表面上光线的均匀性,从而提高了缺陷检测的准确性。
基本信息
专利标题 :
一种同轴检测光源
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122654249.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-01
授权号 :
CN216350393U
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
钟超
申请人 :
广东奥普特科技股份有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市长安镇锦厦社区河南工业区锦升路8号
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
李成同
优先权 :
CN202122654249.2
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88 G01N21/01 G03B15/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-04-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载