AOI外观截面平台平面度调节机构
授权
摘要

本实用新型公开AOI外观截面平台平面度调节机构,包括人工操作台,所述人工操作台的上端前侧面设置有显示器,所述显示器一侧设置有操作按钮,所述人工操作台的顶部设置有三色警示灯,所述人工操作台的一侧外壁上铰接有检修门板,所述人工操作台内固定设置有大理石台面,所述大理石台面的上方设置有用于放置检测样本的真空治具平台,所述大理石台面上设置有用于规整检测样本的产品规整机构,通过拧动不同位置处的调节螺杆,从而调节支撑高度,调整真空治具平台的平面度,通过设置Y轴向搬运机构与产品规整机构,可通过Y轴向搬运机构驱使产品规整机构带动真空治具平台前后运动,使真空治具平台上的检测样本往返移动。

基本信息
专利标题 :
AOI外观截面平台平面度调节机构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122764079.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-12
授权号 :
CN216309818U
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
周洪锋余凤焰余凯刚
申请人 :
上海帆声软件有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
代理机构 :
上海怡恩专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
潘青青
优先权 :
CN202122764079.3
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-04-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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