一种微扫描器平面元件全方位扫描测量仪
授权
摘要

一种微扫描器平面元件全方位扫描测量仪,包括放置板和放置板边沿的多条支撑腿,放置板的中心设置有元件放置板,半球形罩的底部边沿与支撑腿的上端固定连接,半球形罩的顶部中心部位设置有镂空的摆动开口,摆动开口四周的半球形罩设置有弧形的活动夹层,活动半球罩的四周边沿位于活动夹层内,活动半球罩的内侧面中心固定有扫描头,其中一条支撑腿的上端固定有导线支撑杆,活动半球罩外侧面中心固定有摆动杆,扫描头的连接线穿过摆动杆、导线支撑杆与外界的扫描测量仪主机接口电连接。本实用新型便于从多个角度全方位地对平面元件表面进行扫描,使扫描结果更准确可靠。

基本信息
专利标题 :
一种微扫描器平面元件全方位扫描测量仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122861857.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-19
授权号 :
CN216246477U
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
王琼
申请人 :
长沙师范学院
申请人地址 :
湖南省长沙市星沙经济技术开发区特立路9号
代理机构 :
济南旌励知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
单玉刚
优先权 :
CN202122861857.0
主分类号 :
G01D21/00
IPC分类号 :
G01D21/00  G01D11/30  G01D11/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01D
非专用于特定变量的测量;不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置;计费设备;非专用于特定变量的传输或转换装置;未列入其他类目的测量或测试
G01D21/00
未列入其他类目的测量或测试
法律状态
2022-04-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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