一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱，包括箱体，所述箱体内部横向设置有置物板，且置物板成型有若干个第三通孔，并且若干个第三通孔分布于置物板表面，所述置物板表面的左右两侧设置有第一滑轨，且第一滑轨之间滑动设置有第一隔板，所述第一隔板表面成型若干个第一覆盖位，且若干个第一覆盖位分别覆盖于若干个第三通孔上，并且若干个第一覆盖位表面分别成型有第一通孔，所述置物板底面的左右两侧设置有第二滑轨，且第二滑轨之间滑动设置有第二隔板，所述第二隔板表面成型若干个第二覆盖位，且若干个第二覆盖位分别位于若干个第三通孔的底端处，并且若干个第二覆盖位底面分别成型有第二通孔。
基本信息
专利标题 ：
一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122870512.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-22
授权号 ：
CN216309747U
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
史智慧
申请人 ：
深圳市联翔仪器设备有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区燕罗街道燕川社区燕山大道恒信厂厂房D栋301-2
代理机构 ：
深圳市汇信知识产权代理有限公司
代理人 ：
张志凯
优先权 ：
CN202122870512.1
主分类号 ：
G01N17/00
IPC分类号 ：
G01N17/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N17/00
测试材料的耐气候，耐腐蚀，或耐光照性能
法律状态
2022-04-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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