一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱,包括箱体,所述箱体内部横向设置有置物板,且置物板成型有若干个第三通孔,并且若干个第三通孔分布于置物板表面,所述置物板表面的左右两侧设置有第一滑轨,且第一滑轨之间滑动设置有第一隔板,所述第一隔板表面成型若干个第一覆盖位,且若干个第一覆盖位分别覆盖于若干个第三通孔上,并且若干个第一覆盖位表面分别成型有第一通孔,所述置物板底面的左右两侧设置有第二滑轨,且第二滑轨之间滑动设置有第二隔板,所述第二隔板表面成型若干个第二覆盖位,且若干个第二覆盖位分别位于若干个第三通孔的底端处,并且若干个第二覆盖位底面分别成型有第二通孔。
基本信息
专利标题 :
一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122870512.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-22
授权号 :
CN216309747U
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
史智慧
申请人 :
深圳市联翔仪器设备有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区燕罗街道燕川社区燕山大道恒信厂厂房D栋301-2
代理机构 :
深圳市汇信知识产权代理有限公司
代理人 :
张志凯
优先权 :
CN202122870512.1
主分类号 :
G01N17/00
IPC分类号 :
G01N17/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N17/00
测试材料的耐气候,耐腐蚀,或耐光照性能
法律状态
2022-04-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载