一种用于晶硅电池可靠性测试的可变间距花篮
授权
摘要
本实用新型提供一种用于晶硅电池可靠性测试的可变间距花篮，包括花篮纵向侧板，花篮横向侧板，底部溢水板，固定螺栓和可调节硅片靠板组件，所述的花篮横向侧板横向通过固定螺栓固定在花篮纵向侧板和花篮纵向侧板的前后两部中间位置；所述的底部溢水板通过固定螺栓固定在花篮纵向侧板的下部位置；所述的花篮纵向侧板的上部左右两侧开设有挂钩提拉孔。本实用新型花篮纵向侧板，花篮横向侧板，底部溢水板和固定螺栓分别采用PVDF的矩形板的设置，有利于起到耐酸碱防腐蚀，安装RFID识别卡的设置，方便识别读取；根据晶硅片宽度或长度的不同，改变支撑靠板主体的位置，并且改变分隔棒的位置，从而起到对晶硅片支撑的作用，避免掉落或者歪倒。
基本信息
专利标题 ：
一种用于晶硅电池可靠性测试的可变间距花篮
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122878522.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-23
授权号 ：
CN216250667U
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
卢春晖崔会旺
申请人 ：
无锡帝科电子材料股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市江阴市屺亭街道永宁路11号创业园二期B2幢
代理机构 ：
无锡睿升知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
姬颖敏
优先权 ：
CN202122878522.X
主分类号 ：
H01L21/673
IPC分类号 ：
H01L21/673 H01L31/18
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/67
专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21/673
使用专用的载体的
法律状态
2022-04-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
