一种检测设备用校对装置
授权
摘要

本实用新型涉及检测设备技术领域,且公开了一种检测设备用校对装置,包括安装底座,所述安装底座的内部活动连接有延伸至安装底座上方的转动柱,所述转动柱的外部套接有位于安装底座内部的蜗轮,所述安装底座的内部活动连接有与蜗轮相匹配且延伸至安装底座外部的传动蜗杆,所述转动柱的顶部固定连接有连接蜗轮块。该检测设备用校对装置,通过转动传动蜗杆带动蜗轮、转动柱、连接蜗轮块以及安装块转动,使得水平仪横向的角度发生改变,通过转动转动蜗杆使得安装块竖向的角度发生改变,该装置通过一系列的机械结构使得水平仪竖向和横向的角度均能够进行调节,在使用时能够对水平仪的角度进行多方位的调节,对水平仪进行充分的校对。

基本信息
专利标题 :
一种检测设备用校对装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123080244.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-09
授权号 :
CN216483102U
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
唐泰然
申请人 :
武汉金测检测技术有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市江夏经济开发区庙山办事处邬树村金龙大街和花山二路交汇处
代理机构 :
武汉智正诚专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
熊远
优先权 :
CN202123080244.X
主分类号 :
G01C25/00
IPC分类号 :
G01C25/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01C
测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
G01C25/00
有关本小类其他各组中的仪器或装置的制造、校准、清洁或修理
法律状态
2022-05-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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