一种平面度检验平台
授权
摘要
本实用新型涉及一种平面度检验平台，包括平台本体、横向导轨、纵向导轨和磁吸滑块；所述横向导轨和所述纵向导轨均设置在所述平台本体上，所述横向导轨和所述纵向导轨垂直设置，所述横向导轨和所述纵向导轨上均滑动连接多个磁吸滑块，检测仪表磁吸在所述磁吸滑块上。本实用新型通过在平台本体上设置横向导轨和所述纵向导轨，在导轨上设置多个磁吸滑块，根据检测仪表底座的大小调整磁吸滑块之间的距离，检测仪表可以方便的磁吸到检验平台上，当产品需要利用多个检测仪表检测时，只需更换检测仪表，且可以方便检测仪表滑动测量。
基本信息
专利标题 ：
一种平面度检验平台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123083792.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-09
授权号 ：
CN216523844U
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
商宇游石真
申请人 ：
阿尔伯特（苏州）科技有限责任公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市高新区旺米街88号
代理机构 ：
苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
赵艳芳
优先权 ：
CN202123083792.8
主分类号 ：
G01B21/30
IPC分类号 ：
G01B21/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/26
••用于检测轮子的准直度
G01B21/30
用于计量表面的粗糙度或不规则性
法律状态
2022-05-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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