便于定位的快换型测试基台
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摘要
便于定位的快换型测试基台。涉及半导体测试设备技术领域，具体涉及对视觉检测用测试基板的改进。包括测试基板，所述测试基板为方形，所述测试基板的上表面设有若干规则的容置孔，还包括一个定位块，所述定位块用于安装在视觉检测设备的工作台上；在所述测试基板的下底面还设有插槽，所述插槽与所述定位块适配。所述定位块的横截面为方形、T字形或燕尾形。所述定位块的轴向长度小于所述测试基板的长度。本实用新型在更换不同的测试基板时，只需要与定位块进行插拔就可以实现，无需拆卸螺栓，既能准确的定位测试基板，又能提高视觉检测的工作效率。
基本信息
专利标题 ：
便于定位的快换型测试基台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123092505.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-09
授权号 ：
CN216622195U
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
武万鑫王毅
申请人 ：
扬州扬杰电子科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省扬州市邗江区平山堂北路江阳创业园三期
代理机构 ：
扬州市苏为知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
周全
优先权 ：
CN202123092505.X
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-05-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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