检测射频线扣合的装置
授权
摘要
本实用新型涉及射频天线技术领域,公开了一种检测射频线扣合的装置,该装置包括依次串联的多个检测组件；多个检测组件中的每个检测组件包括两个射频座，两个射频座之间用于连接射频线；多个检测组件中的第一检测组件一端的射频座的引脚为GPIO信号连接点，多个检测组件中的第二检测组件一端的射频座的引脚用于接地。检测时，则若每个射频线都扣合良好，GPIO信号会通过多个串联的射频线形成完整的回路，此时的GPIO为低电平；若有任意一个或多个射频线扣合不良，则GPIO就无法形成回路，GPIO的状态为默认设置状态(高电平或高阻状态)。
基本信息
专利标题 ：
检测射频线扣合的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123137186.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-13
授权号 ：
CN216526248U
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
杨俭
申请人 ：
西安易朴通讯技术有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区天谷八路211号环普产业园C幢5楼
代理机构 ：
北京同达信恒知识产权代理有限公司
代理人 ：
于丹
优先权 ：
CN202123137186.X
主分类号 ：
G01R31/68
IPC分类号 ：
G01R31/68 H04B15/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/68
可拆开的连接的测试，例如安装于印刷电路板的端子
法律状态
2022-05-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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