本实用新型涉及一种芯片，尤其是一种支持乱序成品测试的芯片。按照本实用新型提供的技术方案，所述支持乱序成品测试的芯片，包括芯片主电路模块，还包括至少一个可读写电路模块，所述可读写电路模块与芯片主电路模块适配连接；对芯片主电路模块进行所需的成品测试时，一次或多次成品测试用的成品测试数据写入并锁存在可读写电路模块内，且通过芯片主电路模块的输出端OUT能读取得到可读写电路模块内相应锁存的成品测试数据，以便利用所读取的成品测试数据与当前对芯片主电路模块成品测试时的当前成品测试数据进行所需的测试处理。本实用新型能有效支持乱序测试，提高测试的效率，降低测试成本，安全可靠。