自动校正的射线测厚传感器及射线检测系统
授权
摘要
本申请公开了自动校正的射线测厚传感器及射线检测系统。所述测厚传感器包括一检测器本体和一校正组件。所述检测器本体包括一安装件和一射线管，所述射线管被设置于所述安装件，所述射线管具有一射线发射端。所述校正组件包括一固定件和一推动元件，所述固定件被设置于所述安装件，所述固定件开设有一通透槽，所述通透槽正对所述射线发射端，所述推动元件被设置于所述固定件，所述推动元件的输出端沿水平方向移动，所述推动元件的输出端用于固定所述校正片，以通过所述推动元件的输出端带动所述校正片由一初始点位移动至一检测点位，且所述校正片位于检测点位时，所述推动元件的输出端达到一预定量程。
基本信息
专利标题 ：
自动校正的射线测厚传感器及射线检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123212543.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-20
授权号 ：
CN216745994U
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
杨帆周志辉杨克中
申请人 ：
凯多智能科技（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市奉贤区环城北路539号3号楼
代理机构 ：
上海领洋专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
罗晓鹏
优先权 ：
CN202123212543.4
主分类号 ：
G01B15/02
IPC分类号 ：
G01B15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
2022-06-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
