一种激光测距传感器精度检验装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种激光测距传感器精度检验装置，装置包括支撑架、激光测距传感器、阶梯块、基座；其中，基座上一侧固定支撑架，基座上另一侧放置阶梯块，激光测距传感器安装在支撑架上且激光测距传感器激光束的方向朝向阶梯块一侧。本实用新型通过巧妙的结构搭建了用于激光测距传感器精度检验的平台，通过该平台可以用于激光测距传感器精度检验，具有操作简单、成本低廉的优点；可以获得激光测距传感器精度检验的误差数据，通过观测误差值的大小就可进行激光测距传感器的精度检验。
基本信息
专利标题 ：
一种激光测距传感器精度检验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123411365.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
CN216718678U
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
谢佩高贯斌刘飞李映杰高阳涛
申请人 ：
凯乐博智能科技（苏州）有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市高新区竹园路209号3号楼910室
代理机构 ：
昆明人从众知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈波
优先权 ：
CN202123411365.8
主分类号 ：
G01S7/40
IPC分类号 ：
G01S7/40 G01S17/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S7/00
与G01S13/00，G01S15/00，G01S17/00各组相关的系统的零部件
G01S7/02
与G01S13/00组相应的系统的
G01S7/40
监测或校准装置
法律状态
2022-06-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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