本实用新型涉及电子产品按键寿命测试领域，具体公开了按键寿命检测上料机构，包括上料板，上料板竖直固定设置在设备机架上，上料板表面设有若干用于上料的上料位，上料位包括若干上料孔，上料孔在上料位内四个方向的数量相等，上料位对应设有测试台，测试台上设有可调节移动对应上料孔用于测试按键寿命的测试杆，该按键寿命检测上料机构通过在上料板上设有若干上料位，并且每个上料位对应设有一个用于安装测试杆的测试台，每个上料位内设有呈方形排列分布的上料孔，同个上料位可同时安装多个不同产品进行同时测试，提高测试效率，并且可依据产品规格的不同调整测试杆的位置，增加设备的通用性。