干扰装置及抗干扰能力测试系统
授权
摘要
本实用新型提供一种干扰装置及抗干扰能力测试系统；所述干扰装置包括开关模块、接触器及线圈；开关模块分别与线圈的一端和接触器的一端连接，开关模块用于控制接触器的通断；线圈的另一端与接触器的另一端连接，线圈用于产生干扰脉冲，以通过干扰脉冲对待测试电路的抗干扰能力进行测试；本实用新型在对待测试电路的抗干扰能力进行测试(特别是对于一待测试设备包括多个待测试电路)时，可直接将干扰装置定位于该待测试电路，从而准确检测出该待测试电路的抗干扰能力，具有结构简单、操作方便、抗干扰能力测试效果显著的优势；本实用新型能够用于对驱动器各功能模块的抗干扰能力进行测试，及对该驱动器主控芯片复位逻辑的有效检测。
基本信息
专利标题 ：
干扰装置及抗干扰能力测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123437415.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
CN216747933U
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
王宇飞
申请人 ：
上海儒竞智控技术有限公司
申请人地址 ：
上海市杨浦区国权北路1688弄75号1202D室
代理机构 ：
上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
赵诗雨
优先权 ：
CN202123437415.X
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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