提高自动化测试系统抗干扰能力的方法

专利权的终止

摘要

本发明涉及一种提高自动化测试系统抗干扰能力的方法，采用测试装置、控制装置、测试源装置，自动测试过程包括抗干扰步骤：A1测试源装置向控制装置发送测试命令；A2控制装置测试命令执行的环境条件是否满足，如果环境条件不满足则执行步骤A3，如果环境条件符合则执行步骤A4；A3控制装置通过接口装置向被测设备、测试装置发送建立环境条件命令，返回步骤A2；A4控制装置通过接口装置向被测设备、测试装置发送测试命令，被测设备、测试装置执行测试动作，并向控制装置返回测试结果。本发明的提高自动化测试系统抗干扰能力的方法增强了自动化测试系统的自愈能力和抗干扰能力，保证系统能够更稳定地运行；简化了自动化脚本设计。

基本信息

专利标题：

提高自动化测试系统抗干扰能力的方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1851466A

申请号：

CN200510100190.5

公开（公告）日：

2006-10-25

申请日：

2005-09-30

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

宋永刚刘承东

申请人：

华为技术有限公司

申请人地址：

518129广东省深圳市龙岗区布吉坂田华为总部办公楼

代理机构：

深圳市顺天达专利商标代理有限公司

代理人：

郭伟刚

优先权：

CN200510100190.5

主分类号：

G01N35/00

IPC分类号：

G01N35/00 G05B19/00

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01N

借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料

G01N35/00

不限于用G01N1/00至G01N33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析；及材料的传送

法律状态

2018-09-18 ：

专利权的终止

未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 35/00
申请日 : 20050930
授权公告日 : 20110420
终止日期 : 20170930

2011-04-20 ：

授权

2006-12-20 ：

实质审查的生效

2006-10-25 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

文件下载

暂无PDF文件可下载