提高MEMS传感器抗干扰能力的阵列式控制方法及系统
实质审查的生效
摘要
本发明涉及提高MEMS传感器抗干扰能力的阵列式控制方法及系统，涉及微机电系统领域，方法包括：获取MEMS阵列式传感器中的多个MEMS传感器量测信息；根据多个MEMS传感器量测信息构建多个MEMS传感器量测模型；对多个MEMS传感器量测模型进行线性拟合，得到伪量测模型；利用融合系数对伪量测模型进行加权融合，得到融合量测方程；利用前向时刻的MEMS传感器融合量测信息对当前时刻状态进行预测，得到当前时刻预测值；利用贝叶斯滤波根据当前时刻的MEMS传感器融合量测信息和当前时刻预测值确定真实角速率。本发明通过对MEMS阵列式传感器未知干扰进行抑制，从而提高MEMS传感器抗干扰的能力。
基本信息
专利标题 ：
提高MEMS传感器抗干扰能力的阵列式控制方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114460327A
申请号 ：
CN202210219968.8
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2022-03-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
常洪龙李佳宇申强
申请人 ：
西北工业大学
申请人地址 ：
陕西省西安市友谊西路127号
代理机构 ：
北京高沃律师事务所
代理人 ：
刘芳
优先权 ：
CN202210219968.8
主分类号 ：
G01P3/44
IPC分类号 ：
G01P3/44 G01P21/02 G06F30/20 G06F17/11 G06F17/15 G06F17/16 G06K9/62 G06F111/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01P
线速度或角速度、加速度、减速度或冲击的测量；运动的存在或不存在的指示；运动的方向的指示、传播时间或传播方向来测量固体物体的方向或速度入G01S；核辐射速度的测量入G01T）
G01P3/00
线速度或角速度的测量；线速度或角速度差值的测量
G01P3/42
以所用电或磁的方法为特征的装置
G01P3/44
用于角速度的测量
法律状态
2022-05-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01P 3/44
申请日 : 20220308
申请日 : 20220308
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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