本实用新型公开了一种霍尔集成电路性能检测装置，涉及霍尔集成电路性能检测技术领域，包括底座，底座顶部前侧固定连接有治具，底座顶部后侧固定连接有直角弯板，直角弯板上设有升降组件，所述升降组件底端固定连接有移动组件，所述移动组件上固定连接有检测针，所述治具内部通过缓冲机构连接有霍尔集成电路，所述缓冲机构包括限位组件、弹簧组件和安装组件，所述限位组件固定连接在治具内部，所述安装组件通过弹簧组件连接在限位组件上，所述安装组件与弹簧组件均位于治具内部，相对于现有技术，本实用新型可有效对霍尔集成电路受到的过度挤压力进行缓冲，即可有效对霍尔集成电路进行防护，避免霍尔集成电路被压损，从而避免经济损失。