本发明涉及一种测试装置，尤其涉及一种集成电路性能检测用测试装置。本发明提供一种能够减少对芯片的摩擦损坏程度，也能够进行芯片分类存放的集成电路性能检测用测试装置。本发明提供了这样一种集成电路性能检测用测试装置，包括有第一安装座、第一导轨、第一连接板、第一滑块、第二导轨等，第一安装座左部上侧安装有第一导轨，第一导轨上侧开有放置槽，第一导轨上滑动式设有第一滑块，第一安装座右部上侧前后对称式设有第一连接板，两块第一连接板下部相向的一侧上均连接有第二导轨。通过电动吸盘将芯片吸附住，以此能够减少对芯片的摩擦损坏程度，通过第一储物框和第二储物框能够进行芯片的分类存放。