一种缩短白场测试距离的测试架
授权
摘要
本申请提供了一种缩短白场测试距离的测试架，包括下盖、上盖、转接板和探针，下盖和上盖之间设置有摄像头，下盖的顶端设置有抬升机构，抬升机构用于调节摄像头镜头的位置。本申请通过设置的抬升机构，在抬升机构对作用下，将摄像头的镜头高于摄像头的连接器，使摄像头的连接器、探针和转接板这一部分的结构整体下移，使摄像头镜头相对于测试架更为突出，缩短了其与光源面板的距离，可减小摄像头捕捉到光源面板的面积或将光源面板的距离尽量移出镜头景深范围，从而减少摄像头测试污点时误判，只捕捉摄像头内部的污点，无需经常频繁清洁或更换光源面板，减少误判，节省了时间，提高了效率。
基本信息
专利标题 ：
一种缩短白场测试距离的测试架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123453046.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
CN216451477U
授权日 ：
2022-05-06
发明人 ：
王钊迎
申请人 ：
信利光电股份有限公司
申请人地址 ：
广东省汕尾市城区工业大道信利工业城一区第15栋
代理机构 ：
广州粤高专利商标代理有限公司
代理人 ：
温德昌
优先权 ：
CN202123453046.3
主分类号 ：
H04N17/00
IPC分类号 ：
H04N17/00
法律状态
2022-05-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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