锂二次电池的劣化原因的诊断
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种在不拆解电池的情况下能够诊断锂二次电池的劣化的无损诊断方法，并提供了诊断锂二次电池的劣化原因的方法，该方法包括：(A)制造包括正极和负极的锂二次电池，所述正极包含层状正极活性材料；(B)由锂二次电池第一次充电期间获得的X‑射线衍射(XRD)数据，获得显示层状正极活性材料的c‑轴d‑间距值随充电期间从层状正极活性材料中脱嵌的锂离子摩尔数的变化的第一图形；(C)由锂二次电池第二次充电期间获得的XRD数据，获得显示层状正极活性材料的c‑轴d‑间距值随充电期间从层状正极活性材料中脱嵌的锂离子摩尔数的变化的第二图形；和(D)通过比较第一图形和第二图形，对锂二次电池的劣化原因进行分类。
基本信息
专利标题 ：
锂二次电池的劣化原因的诊断
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114375392A
申请号 ：
CN202180005251.7
公开（公告）日 ：
2022-04-19
申请日 ：
2021-04-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
尹孝贞李恩周金素英
申请人 ：
株式会社LG新能源
申请人地址 ：
韩国首尔
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
解延雷
优先权 ：
CN202180005251.7
主分类号 ：
G01N23/207
IPC分类号 ：
G01N23/207 G01N23/2055 G01N27/403 H01M10/42 H01M10/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/207
衍射，例如，利用处于中心位置的探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器
法律状态
2022-05-06 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/207
申请日 : 20210428
申请日 : 20210428
2022-04-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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