测试装置
实质审查的生效
摘要
本申请实施例提供一种测试装置,包括第一支撑板、第二支撑板、旋转臂组件以及转轴组件,旋转臂组件分别与第一支撑板以及第二支撑板固定连接,转轴组件与旋转臂组件固定连接,第二支撑板通过转轴组件与第一支撑板可转动连接;上述测试装置的支撑机构用于放置待测折叠显示装置,当转动转轴组件时,待测折叠显示装置跟随支撑机构弯折,使得待测折叠显示装置在测试装置上进行弯折寿命测试,针对不同弯折轨迹或者不同尺寸大小的待测折叠显示装置,测试装置可以通过更换转轴组件或者支撑机构来实现对其进行弯折寿命测试,从而使测试装置能够实现对不同弯折轨迹或者不同尺寸大小的待测折叠显示装置进行弯折寿命测试。
基本信息
专利标题 :
测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114414400A
申请号 :
CN202210001589.1
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2022-01-04
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
聂大文
申请人 :
武汉华星光电半导体显示技术有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道666号光谷生物创新园C5栋305室
代理机构 :
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 :
何志军
优先权 :
CN202210001589.1
主分类号 :
G01N3/20
IPC分类号 :
G01N3/20 G01N3/04 G01M11/02 G09F9/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
G01N3/20
施加稳定的弯曲力
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 3/20
申请日 : 20220104
申请日 : 20220104
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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