一种解决基于结构光的微小物体测量阴影问题的测量方法
公开
摘要

本发明公开了一种解决基于结构光的微小物体测量阴影问题的测量方法,首先使用两台标定好的装有远心镜头的投影仪分别将蓝色单色条纹和红色单色条纹同时从左右两个方向投射到被测物体上;接着用彩色相机来捕获带有被测物体信息的叠加红、蓝条纹,并对采集到的图片进行三通道分离,获得红色通道与蓝色通道的信息;然后对分离出来的红、蓝通道信息通过相移法与多频外差法获得它们的三维点云数据,生成一个掩膜筛选需要的信息,最后将获得的红、蓝通道两个点云融合从而解决微小物体测量中的固有阴影问题。本发明利用红蓝两个通道同时测量的方法能够解决三维微小物体测量时难以规避的阴影问题,在高精度、高动态三维微小物体测量领域具有巨大的价值。

基本信息
专利标题 :
一种解决基于结构光的微小物体测量阴影问题的测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114295076A
申请号 :
CN202210003863.9
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2022-01-05
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
伏燕军桂程钟汇凯周鹏许钟声
申请人 :
南昌航空大学
申请人地址 :
江西省南昌市丰和南大道696号
代理机构 :
深圳市智旭鼎浩知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
周超
优先权 :
CN202210003863.9
主分类号 :
G01B11/25
IPC分类号 :
G01B11/25  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
G01B11/25
通过在物体上投影一个图形,例如莫尔条纹
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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