用于测量物体的测量仪器
授权
摘要
本实用新型公开了用于测量物体的测量仪器，可以减少读取刻度尺时产生误差的方法及将刻度尺上5mm处缩进的方案。本申请的刻度尺是用于测量长度的刻度尺，包括形成有刻度的尺子的主体部分，该刻度尺主体部分包括以1cm为单位的第一级基准和以1mm为单位的第二级基准。同时包含刻度尺参考线和第三级刻度尺参考线，单位为5mm。定义第一级比例尺参考线的长度比定义第二级比例尺的长，而定义第三级比例尺参考线的长度短于定义第二级比例尺参考线的长度。
基本信息
专利标题 ：
用于测量物体的测量仪器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921985615.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-18
授权号 ：
CN212228150U
授权日 ：
2020-12-25
发明人 ：
杨立文
申请人 ：
杨立文
申请人地址 ：
辽宁省大连市经济技术开发区翠竹小区20-1-202
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921985615.9
主分类号 ：
G01F19/00
IPC分类号 ：
G01F19/00 G01B3/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01F
容积、流量、质量流量或液位的测量；按容积进行测量
G01F19/00
用于流体或流动固体材料的标定容量的测量，例如量杯
法律状态
2020-12-25 ：
授权
2020-06-02 ：
文件的公告送达
IPC(主分类) : G01F 19/00
收件人 : 杨立文
文件名称 : 补正通知书
收件人 : 杨立文
文件名称 : 补正通知书
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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