一种用于高度测量的仪器
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种用于高度测量的仪器,包括高度测正机构、水平校正底架、激光测正机构,所述高度测正机构连接在水平校正底架的顶面中心,所述激光测正机构设置在高度测正机构的外侧顶段,且激光测正机构可在高度测正机构的外侧上下滑动。本发明优化了高度测量方式的设计,改变传统的测量方法,改进为一种利用水平校准和激光照射的方法进行测量高度水平,测量结果更加精准,设备可以采用两组设备进行同步测量,测量适用于各类建筑和实地测绘,仪器具备水平校准,可以作为水平仪进行使用,还可作为气压检测仪器进行使用,测量结果更加精准,适用范围更加广泛,宜推广使用。

基本信息
专利标题 :
一种用于高度测量的仪器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114440824A
申请号 :
CN202210117152.4
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2022-02-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
马文娟
申请人 :
长沙湘匠智能科技有限公司
申请人地址 :
湖南省长沙市望城经济技术开发区普瑞大道一段1555号金桥国际未来城10栋三楼307-1区
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202210117152.4
主分类号 :
G01C5/00
IPC分类号 :
G01C5/00  G01C5/06  G01C9/00  G01C9/18  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01C
测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
G01C5/00
高程测量;横向视距测量;分开点间的水准测量;水准仪
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01C 5/00
申请日 : 20220208
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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