转台综合指向精度的测试装置及方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种转台综合指向精度的测试装置及方法，包括停放台和平行光源；停放台用于停放被测转台；平行光源在被测转台上的相机中成像。本发明试验装置及方法可对额定工况下转台的综合指向精度进行试验评估，获得综合指向精度与相位的变化规律。
基本信息
专利标题 ：
转台综合指向精度的测试装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114486189A
申请号 ：
CN202210005596.9
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-01-04
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈雅璐李志慧彭效海陈立刘玉庆费志禾王启明
申请人 ：
上海卫星装备研究所
申请人地址 ：
上海市闵行区华宁路251号
代理机构 ：
上海段和段律师事务所
代理人 ：
李源
优先权 ：
CN202210005596.9
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20220104
申请日 : 20220104
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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