一种气动光学热辐射校正方法、电子设备及可读存储介质
授权
摘要
本发明涉及一种气动光学热辐射校正方法、电子设备及可读存储介质，所述方法包括：获取待校正热辐射图像，对所述待校正热辐射图像进行处理，得到处理后的图像；将所述处理后的图像上的像素点坐标转换为预设形式坐标，根据所述预设形式坐标得到热辐射噪声曲面图像；利用所述热辐射噪声曲面图像对所述待校正热辐射图像进行校正，得到校正后的热辐射图像。本发明提供的气动光学热辐射校正方法，能够对气动光学热辐射进行有效校正。
基本信息
专利标题 ：
一种气动光学热辐射校正方法、电子设备及可读存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114022399A
申请号 ：
CN202210013903.8
公开（公告）日 ：
2022-02-08
申请日 ：
2022-01-07
授权号 ：
CN114022399B
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
洪汉玉陈睿选时愈张丽琴杜敦伟赵欣张天序桑农
申请人 ：
武汉工程大学
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷一路206号
代理机构 ：
武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黄君军
优先权 ：
CN202210013903.8
主分类号 ：
G06T5/00
IPC分类号 ：
G06T5/00 G06T5/20 G06T3/40
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T5/00
图像的增强或复原
法律状态
2022-04-19 ：
授权
2022-02-25 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 5/00
申请日 : 20220107
申请日 : 20220107
2022-02-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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