气动光学热辐射效应校正方法、装置、设备及存储介质
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种气动光学热辐射效应校正方法、装置、设备及存储介质，其方法包括：获取气动光学热辐射退化图像，并对退化图像进行滤波操作得到滤波图像；对滤波图像进行下采样处理并生成离散点；对离散点使用基于移动最小二乘法曲面拟合法拟合出初始偏置场曲面；将初始偏置场曲面输入预先建立的退化模型中，并使用交替迭代最小法输出满足预设迭代条件的校正图像及偏置场。本发明中输出的校正图像更清晰，提升了校正效果。
基本信息
专利标题 ：
气动光学热辐射效应校正方法、装置、设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114529481A
申请号 ：
CN202210417594.0
公开（公告）日 ：
2022-05-24
申请日 ：
2022-04-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
洪汉玉鲁浩渊时愈张丽琴杜敦伟赵欣张天序桑农冯先成钟卫军
申请人 ：
武汉工程大学
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷一路206号
代理机构 ：
武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黄君军
优先权 ：
CN202210417594.0
主分类号 ：
G06T5/00
IPC分类号 ：
G06T5/00 G06T7/90
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T5/00
图像的增强或复原
法律状态
2022-06-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 5/00
申请日 : 20220421
申请日 : 20220421
2022-05-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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