基于格林函数双调和样条插值热辐射效应校正方法及装置
授权
摘要

本发明涉及一种基于格林函数双调和样条插值热辐射效应校正方法及装置,其包括:获取气动光学热辐射退化图像,并对热辐射退化图像进行滤波处理,得到热辐射低频图像;对热辐射低频图像进行降采样处理,获取降采样图像中的采样点。对采样点使用基于格林函数双调和样条插值法拟合出插值曲面;将插值曲面输入预先建立的图像校正模型中,并使用交替迭代最小法求解出清晰图像及热辐射效应偏置场。本发明的方法算法运行速度较快,迭代次数相对较少,能够对热辐射退化图像进行有效的校正。

基本信息
专利标题 :
基于格林函数双调和样条插值热辐射效应校正方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114022398A
申请号 :
CN202210013824.7
公开(公告)日 :
2022-02-08
申请日 :
2022-01-07
授权号 :
CN114022398B
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
洪汉玉刘径托时愈张丽琴杜敦伟赵欣张天序桑农
申请人 :
武汉工程大学
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷一路206号
代理机构 :
武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
黄君军
优先权 :
CN202210013824.7
主分类号 :
G06T5/00
IPC分类号 :
G06T5/00  G06T5/20  G06T3/40  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T5/00
图像的增强或复原
法律状态
2022-05-10 :
授权
2022-02-25 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 5/00
申请日 : 20220107
2022-02-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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