大陡度凸面光学自由曲面全频段像差检测系统及检测方法
实质审查的生效
摘要

大陡度凸面光学自由曲面全频段像差检测系统及检测方法,涉及光学自由曲面检测技术领域,本发明的目的是提供一种大陡度凸面光学自由曲面的全频段像差检测系统及检测方法,以解决大陡度凸面光学自由曲面的全频段像差检测中动态范围与检测精度不可兼得这一矛盾,进而解决大陡度凸光学自由曲面的检测问题,本发明中低频段像差检测系统、高频段像差检测系统、计算机处理系统和光路夹持与装调系统,光路夹持与装调系统用于对中低频段像差检测系统和高频段像差检测系统的装调;本发明最终通过计算机处理系统采用Zernike多项式拟合的方式进行大陡度凸面光学自由曲面全频段像差检测,从而弥补现在大陡度凸面光学自由曲面全频段像差检测方法的不足。

基本信息
专利标题 :
大陡度凸面光学自由曲面全频段像差检测系统及检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114353695A
申请号 :
CN202210016795.X
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2022-01-07
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
马鑫雪王建立王斌刘欣悦
申请人 :
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 :
吉林省长春市东南湖大路3888号
代理机构 :
长春众邦菁华知识产权代理有限公司
代理人 :
朱红玲
优先权 :
CN202210016795.X
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/24
申请日 : 20220107
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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