一种用于软X射线显微成像的原位电池装置
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种用于软X射线显微成像的原位电池装置,包括:上硅片和下硅片;在上硅片和下硅片各开1个上观察窗和1个下观察窗,在上观察窗两侧各开一个抽注液口;下硅片开1个液体池,使得液体池宽度大于2个抽注液口之间距离;在下硅片上制作2个电极,2个电极的一端相对置于液体池中并保持一定空隙,且空隙位于上下观察窗视野覆盖的区域,液体池中的电极区域经PDMS块压印后只留有单层电极颗粒,2个电极的另一端分别伸出液体池;在上下观察窗四周对应位置分别开至少一个上通孔和下通孔。本发明提供的原位电池装置,成像方法适用性较广,采用单层电极颗粒,电极颗粒之间在软X射线下有较大的距离,可以对单电极颗粒实现准确的高分辨软X射线成像。

基本信息
专利标题 :
一种用于软X射线显微成像的原位电池装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114371183A
申请号 :
CN202210026028.7
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2022-01-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
田扬超丁旭熊瑛关勇吴朝刘刚
申请人 :
中国科学技术大学
申请人地址 :
安徽省合肥市包河区金寨路96号
代理机构 :
北京科迪生专利代理有限责任公司
代理人 :
金怡
优先权 :
CN202210026028.7
主分类号 :
G01N23/046
IPC分类号 :
G01N23/046  G01N23/2251  H01M10/42  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术,如计算机X光断层技术
法律状态
2022-05-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/046
申请日 : 20220111
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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