生成验证序列的方法及其装置、功能覆盖率的验证方法
实质审查的生效
摘要

本公开实施例涉及半导体测试领域,提供一种生成验证序列的方法及其装置、功能覆盖率的验证方法,生成验证序列的方法包括:设定验证序列的命令个数为N;构建数据库,数据库中包含多个命令,命令为验证序列中需要的命令;从数据库中依次随机挑出N个命令;对N个命令进行检验,若检验合格,生成验证序列。本公开实施例至少有利于提高生成的验证序列的全面性,避免人工编写验证序列的易错性和繁琐性,以及有利于提高生成验证序列的效率。

基本信息
专利标题 :
生成验证序列的方法及其装置、功能覆盖率的验证方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114490357A
申请号 :
CN202210028932.1
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
叶子健
申请人 :
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 :
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
成丽杰
优先权 :
CN202210028932.1
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36  G06F16/21  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/36
申请日 : 20220111
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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