一种消除第三腔干扰的光纤法珀压力传感器及MEMS制造方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种消除第三腔干扰的光纤法珀压力传感器及MEMS制造方法,属于高精度光纤传感技术领域。该传感器的SOI片器件层硅与硼硅玻璃同轴固定,单模光纤固结于毛细玻璃管中心孔内的,毛细玻璃固定在硼硅玻璃下表面;其中硼硅玻璃上下表面之间的区域形成法珀光学干涉硼硅玻璃腔,器件层硅的圆孔底面和硼硅玻璃上表面之间的区域形成法珀光学干涉空气腔,器件层硅内表面和圆孔底面之间的区域形成法珀光学干涉硅腔。该器件通过在第三腔—硅腔表面制备出黑硅,使得从硅腔下表面透射过来的光束在硅腔上表面发生漫反射,极大地减少硅腔干涉现象的产生,最终压力传感器中传输的光束仅受空气腔、硼硅玻璃腔的调制,形成规律的双腔干涉光谱,消除了第三腔的干扰,降低了解调难度,提高了测量的精度。

基本信息
专利标题 :
一种消除第三腔干扰的光纤法珀压力传感器及MEMS制造方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114486019A
申请号 :
CN202210032737.6
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-12
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
马志波叶芳苑伟政朱杰希
申请人 :
西北工业大学
申请人地址 :
陕西省西安市友谊西路127号
代理机构 :
西北工业大学专利中心
代理人 :
吕湘连
优先权 :
CN202210032737.6
主分类号 :
G01L1/24
IPC分类号 :
G01L1/24  G01L11/02  B81C1/00  B81B7/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01L
测量力、应力、转矩、功、机械功率、机械效率或流体压力
G01L1/00
力或应力的一般计量
G01L1/24
通过测量材料受应力时其光学性质的变化,例如,应用光弹性应力分析
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01L 1/24
申请日 : 20220112
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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