一种分光光度的测量方法
实质审查的生效
摘要
本发明属于实验设备测量领域，具体涉及了一种分光光度的测量方法。本发明通过水平方向的平移测量和竖直方向的升降测量，再将数据进行优化处理，解决了单点或数点测量时，由于方形比色皿的平行度、壁厚不均匀以及频繁拿放导致放置位置不同等造成的误差，提高了测量准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种分光光度的测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114279990A
申请号 ：
CN202210033922.7
公开（公告）日 ：
2022-04-05
申请日 ：
2022-01-12
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吕运昌陈云龙边宝丽丁瑞峰刘海波朱鸿鑫王林涛冯峰王明朗邢芳玉张玉珍李擎李丹李娟王宏伟于峰王海付发明廖祥林蒋占军黄振鹏
申请人 ：
北京华科仪科技股份有限公司
申请人地址 ：
北京市大兴区西红门镇金业大街10号
代理机构 ：
北京悦和知识产权代理有限公司
代理人 ：
司丽春
优先权 ：
CN202210033922.7
主分类号 ：
G01N21/31
IPC分类号 ：
G01N21/31 G01N21/33 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
法律状态
2022-04-22 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/31
申请日 : 20220112
申请日 : 20220112
2022-04-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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