本公开涉及一种测试方法、装置、计算机设备及存储介质，所述方法包括：根据第一预设规则向待测芯片写入第一预设长度的第一预设行数据，得到初始化测试芯片；根据第二预设规则逐条字线地向所述初始化测试芯片执行预设数据阵列式写入操作，向初始化测试芯片写入第一测试数据，以得到测试芯片；其中，在向任一所述字线再次写入第一预设长度的行数据时获取所述字线已写入行数据对应的行预充电时间；根据第三预设规则逐条字线地向测试芯片执行读出操作，以读出第一目标测试数据；比较第一目标测试数据与对应的第一测试数据，并根据比较结果判断各所述行预充电时间是否符合要求。本公开有效地提高了半导体存储芯片的设计效率、生产良率及可靠性。