一种微小尺寸缺陷的测量与识别方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种微小尺寸缺陷的测量与识别方法，属于工业缺陷检测和测量技术领域。该方法采用基于Canny算子亚像素法提取检测物的边缘轮廓，然后将感兴趣的微小区域进行矩阵固定框选采取，再将图片像素值和实际尺寸值进行等比例坐标转换得到感兴趣区域的尺寸，采用改进的YOLOv4进行目标检测框架，将改良的DenseCPSDarknet‑53作为骨干网络，与可裁剪的下三角形金字塔特征提取架构相结合进行目标特征提取得到三个不同尺寸的图像特征，再通过通道注意力和空间注意力机制进行权重叠加，最后通过YOLO head部分，得到缺陷类型和尺寸。本发明解决了使用传统视觉方法在工业缺陷检测时误检，漏检率高的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种微小尺寸缺陷的测量与识别方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114359256A
申请号 ：
CN202210041294.7
公开（公告）日 ：
2022-04-15
申请日 ：
2022-01-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
郑太雄朱意霖
申请人 ：
重庆邮电大学
申请人地址 ：
重庆市南岸区黄桷垭崇文路2号
代理机构 ：
北京同恒源知识产权代理有限公司
代理人 ：
廖曦
优先权 ：
CN202210041294.7
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T7/13 G06N3/04 G06N3/08 G01N21/88 G01B11/24 G06V10/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20220114
申请日 : 20220114
2022-04-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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