一种基于聚焦离子束制备低阶褐煤HRTEM薄片样品的方法
实质审查的生效
摘要

一种基于聚焦离子束制备低阶褐煤HRTEM薄片样品的方法,包括以下步骤:在扫描电子显微镜模式下利用二次电子图像或者背散射电子图像找到目标尺寸大小的褐煤颗粒,并选取目标区域进行Pt层沉积;利用聚焦离子束对褐煤颗粒目标区域进行初构型挖坑切割得到褐煤初构型薄片样品;对样品依次进行减薄粗修和不对称凹型切割;利用纳米机械手对样品进行提取与固定;聚焦离子束低束流对褐煤样品进行切片抛光精修。该方法耗时短,能方便控制煤片的厚度,目标性强,能够实现对特定煤粒的原位观察;另外,该方法制备得到的薄片样品厚度薄符合HRTEM透射测试样品的要求,可使薄片在HRTEM下观察得到的图像清晰,芳香条纹显示效果显著。

基本信息
专利标题 :
一种基于聚焦离子束制备低阶褐煤HRTEM薄片样品的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114518375A
申请号 :
CN202210042072.7
公开(公告)日 :
2022-05-20
申请日 :
2022-01-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
周蕊徐剑坤郭轩辰马少莲何亚群韦能
申请人 :
中国矿业大学
申请人地址 :
江苏省徐州市大学路1号
代理机构 :
北京淮海知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李妮
优先权 :
CN202210042072.7
主分类号 :
G01N23/2202
IPC分类号 :
G01N23/2202  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2202
样品制备
法律状态
2022-06-07 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/2202
申请日 : 20220114
2022-05-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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