一种基于温度影响下的ZnO压敏电阻老化状态的评估方法
实质审查的生效
摘要
一种基于温度影响下的ZnO压敏电阻老化状态的评估方法，该评估方法的流程图如图2所示。其评估步骤为：通过冲击发生器对ZnO压敏电阻进行冲击，通过记录冲击次数和测得的冲击后的温度值得到ZnO压敏电阻在不同冲击次数和温度下的工作电流因子，最终结合工作电流因子和工作电压因子得到ZnO压敏电阻的老化状态评估因子，根据计算得出的ZnO压敏电阻的老化状态评估因子判断ZnO压敏电阻的老化状态。本发明的有益效果在于提供了一种基于温度影响下的ZnO压敏电阻老化状态的评估方法，并搭建了试验平台，且主要实现方法就是考虑ZnO压敏电阻的老化状态评估因子，对电力通信系统的稳定运行具有重要意义。
基本信息
专利标题 ：
一种基于温度影响下的ZnO压敏电阻老化状态的评估方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114441872A
申请号 ：
CN202210043180.6
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2022-01-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王东阳杨佳伟林智聪俞剑飞
申请人 ：
西南交通大学
申请人地址 ：
四川省成都市西南交通大学
代理机构 ：
武汉聚信汇智知识产权代理有限公司
代理人 ：
马尚伟
优先权 ：
CN202210043180.6
主分类号 ：
G01R29/22
IPC分类号 ：
G01R29/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/22
压电性质的测量
法律状态
2022-05-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 29/22
申请日 : 20220114
申请日 : 20220114
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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